Verschlagwortet: SEM

Da bei Elektronenmikroskopen die Wellenlänge des Lichts als Begrenzungsfaktor keine Rolle spielt, lassen sich sogar die Abstände einzelner Atome erkennen. Transmissions-Elektronenmikroskope (TEM) erreichen Auflösungen bis 0,1 nm; bei Rasterelektronenmikroskopen (SEM, Scanning Electron Microscope) liegt die Auflösung im Bereich von 1 nm. Bild: Dr. Reiner Ramlau, MPI für Chemische Physik fester Stoffe 0

Antriebe und Positionierung für Elektronenmikroskope

Die Elektronenmikroskopie ermöglicht Untersuchungen mit extrem hoher lateraler Auflösung bis in den Bereich unter einem Nanometer. Dies stellt allerdings auch sehr große Anforderungen an die abbildenden Elemente. Ebenso exakt müssen natürlich auch die Proben positioniert werden,...