Autor: Dr.-Ing. Özgür Tan

ProduktionSensorik

Hohe laterale Auflösung und großer Messbereich für Strukturen im Nanometerbereich
Oberflächenmessung für Industrie, Forschung und Labor

Immer wenn es um die Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit feinster Strukturen geht sind Weißlicht-Interferometer in ihrem Element, in Fertigung und Entwicklung ebenso wie im Labor und der Forschung. Das Verfahren funktioniert auf nahezu allen Materialien, arbeitet berührungslos und liefert Höhenauflösungen im… Read More